by icia icia

Obiective:
completarea si dezvoltarea cunostintelor in unul din segmentele importante ale mijloacelor de control si testare a factorilor de mediu: spectrometria atomica si mijloacele optoelectronice de implementare a acesteia;
obtinerea de cunostiinte asupra fenomenelor implicate in determinarea pe baza de fluorescenta atomica (AFS) a metalelor grele si elementelor toxice utilizand o plasma cuplata capacitiv (CCP) drept cuva de atomi liberi;

OBIECTIVE
  • completarea si dezvoltarea cunostintelor in unul din segmentele importante ale mijloacelor de control si testare a factorilor de mediu: spectrometria atomica si mijloacele optoelectronice de implementare a acesteia;
  • obtinerea de cunostiinte asupra fenomenelor implicate in determinarea pe baza de fluorescenta atomica (AFS) a metalelor grele si elementelor toxice utilizand o plasma cuplata capacitiv (CCP) drept cuva de atomi liberi;
  • dezvoltarea unui produs inovativ si a unor tehnici de control a factorilor de mediu pe baza unor idei originale, bazate pe instrumentatie optoelectronica si metodologii spectrale moderne implicand fluorescenta atomica;
  • elaborarea de metode de control de o mare precizie, specificitate si sensibilitate realizate cu aparatura relativ simpla, de mici dimensiuni si accesibila financiar.
PREZENTARE FLUOROSPEC urmareste elaborarea unui produs inovativ si a unor tehnici de control al factorilor de mediu, bazate pe instrumentatie optoelectronica si metodologii spectrale moderne. Principiul instrumental pe care se bazeaza proiectul consta in producerea de atomi liberi prin disocierea termica a unei probe intr-o sursa de plasma de radiofrecventa cuplata capacitiv (CCP), urmata de excitarea atomilor astfel rezultati, prin iluminare cu radiatie electromagnetica furnizata de o sursa exterioara plasmei si de masurarea radiatiei de fluorescenta produsa in urma iluminarii. Abordarea propusa de proiect are un grad de noutate absolut; nu exista nici o lucrare stiintifica referitoare la determinari prin fluorescenta atomica (AFS) in plasma cuplata capacitiv. Surse cu plasma cuplata capacitiv de mica putere au fost dezvoltate anterior de membri din echipa proiectului, dar au fost utilizate numai in spectrometria de emisie optica (CCP-OES). Aceste surse prezinta avantaje substantiale fata de cele clasice in privinta gradului de atomizare, a caracteristicilor spectrale si a consumului de energie si gaz suport. Factorul de mediu care poate fi testat sau masurat prin aceasta metoda este continutul de metale grele, pana la valori de ultraurme, in cele mai diverse si complexe tipuri de probe. Problema de mediu caruia i se adreseaza proiectul este de actualitate in tara noastra unde poluarea cu metale grele si cu unele elemente toxice este prezenta in toate zonele industriale, avand uneori accente dramatice.
REZULTATE ESTIMATE
  • un model functional optolectronic de fluorescenta in CCP, care include generator, torta si sisteme optoelectronice de excitare si detectie;
  • un brevet de inventie national;
  • 8 articole in reviste indexate ISI;
  • 3 metode noi de laborator pentru controlul si testarea mediului;
  • studiu de fezabilitate catre potentialii beneficiari privind utilitatea modelului functional CCPAFS.
REZULTATE OBTINUTE

FAZA I
Stabilirea configuratiei optime pentru realizarea sistemului de fluorescenta atomica cu
atomizare in CCP

1.1.Stabilirea cerintelor pentru realizarea componentelor si subansamblelor;
1.2.Stabilire tema de proiectare.

FAZA II
Proiectare si realizare componente pentru sistemul CCP -AFS

2.1.Proiectare subansamble si componente;
2.2.Proiectare si realizare subansamblu torta CCP;
2.3.Realizare componente si subansamble;
2.4.Diseminare.

FAZA III
Asamblare si experimentare model functional optoelectronic CCP – AFS (realizare partiala)

3.1. Asamblare componente si subansamble model functional;
3.2. Simulare model functional CCP – AFS (partial);
3.3. Testare preliminara model functional CCP-AFS.

Faza IV
Continuare experimentare model functional CCP – AFS

 4.1. Simulare model functional CCP – AFS (final);
4.2. Continuare testare model functional CCP-AFS (partial).

Etapa V.
Cercetare industriala. Dezvoltarea experimentala. Activitati suport. Finalizare experimentare model functional optoelectronic CCP-AFS. Elaborarea de metode specifice de analiza parametri de mediu, demonstratie functionalitate si utilitate, diseminare.

5.1. Finalizare testare model functional CCP-AFS;
5.2. Elaborare metode de laborator pe baza modelului CCP-AFS;
5.3. Demonstrarea functionalitatii si utilit?tii modelului CCP-AFS;
5.4. Identificarea si atribuirea drepturilor de proprietate intelectuala asupra rezultatelor: elaborare documentatie si depunere de brevet de inventie nationala;
5.5. Diseminarea pe scara larga prin comunicarea si publicarea nationala/ internationala a rezultatelor, CD, pagina web.
Alte Informatii
Documente relevante: